میکروسکوپ الکترونی زایس
میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM و FE-SEM
میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscope – SEM)، با تابش پرتو الکترونی متمرکز ، نمونه ها را اسکن کرده و تصاویر تهیه شده از آن را به همراه اطلاعات مربوط به توپوگرافی در اختیار کاربر قرار میدهد. با بکارگیری CSEMs (سیستمهای SEM مرسوم مجهز به منبع الکترون حرارتی) و FE-SEMs (میکروسکوپ های SEM گسیل میدانی) زایس، امکان تهیه تصاویر دقیق با وضوح بالا از سطح نمونه فراهم شده است.
میکروسکوپهای FE-SEM سری Gemini 300/450/500
تصویربرداری راحت با میکروسکوپهای سری GeminiSEM: حتی در حالات فشار متغیر وضوح تصویر زیر نانومتری و آشکارسازی با وضوح بالا را تجربه کنید .
میکروسکوپ مدل GeminiSEM 500 طراحی اپتیک الکترونی نوینی را با فناوری Gemini همراه ساخته است. با این میکروسکوپ میتوانید در ولتاژ پایین وضوح تصویر بهتری نیز داشته باشید. با ۲۰ برابر کردن سیگنال آشکارساز Inlens، همواره میتوانید تصاویر واضحی را به سرعت و با کمترین آسیب به نمونه بدست آورید. فناوری جدید فشار متغیر این میکروسکوپ باعث میشود که کار در محیط با خلأ بالا را احساس کنید.
میکروسکوپ الکترونی FE-SEM سری Sigma 300/500
در این میکروسکوپ، فناوری گسیل میدانی (Field Emission) با امکانات پیشرفته تجزیه و تحلیل ترکیب شده است. با استفاده از این میکروسکوپ میتوان از ذرات ،سطوح و نانوساختارها تصاویری با دقت بالا تهیه نمود. میکروسکوپ Sigma شامل یک فرآیند ۴ مرحله ای نیمه اتوماتیک است. بنابراین شما میتوانید با بکارگیری این میکروسکوپ در وقت خود صرفه جویی کنید.
میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل EVO
این میکروسکوپ با امکان به کارگیری ولتاژ و فشار پایین و با انتشار پرتو الکترونی (BSE)، قابلیت ارائه تصاویری را دارد که جزئیات توپوگرافی در آنها به خوبی مشاهده میشود. با بکارگیری میکروسکوپ EVO میتوانید طیف وسیعی از نمونه های زیستی را مورد مطالعه و بررسی قرار دهید.
MultiSEM 505/506
میکروسکوپ MultiSEM 505/506 با انتشار بیش از ۹۱ پرتو موازی الکترونی، تصاویر دقیقی از نمونه تهیه میکند. بنابراین با استفاده از این میکروسکوپ میتوانید از نمونههای کوچکتر از یک سانتیمتر، تصاویری با وضوح نانومتر مشاهده کنید.
میکروسکوپ FIB-SEM
میکروسکوپهای FIB-SEM با تکنولوژی پرتو یونی غیر موازی
با استفاده از میکروسکوپهای FIB-SEMs زایس یا میکروسکوپ الکترونی با پرتو یونی متمرکز میتوانید فرآیند نانوتوموگرافی و نانوفابریکیشن را در مدت زمان بسیار کوتاهی انجام دهید. این نوع از میکروسکوپهای الکترونی، تکنولوژی تصویربرداری سه بعدی و امکانات تجزیه و تحلیل ستون پرتوی الکترونی Gemini را با قابلیت پرتو یونی متمرکز برای پردازش مواد، مطالعه و آمادهسازی نمونه در مقیاس نانو، ادغام کرده است. همچنین به دلیل استفاده از پرتو با پروفایل یکنواخت و پایدار میتوانید بیشترین بهرهوری را از این نوع میکروسکوپ داشته باشید. آخرین و مهمترین ویژگی این میکروسکوپ، وجود رابط کنترل گرافیکی FIB-SEM است که کار کردن با آن بسیار ساده بوده و به کاربر اجازه دسترسی همزمان اطلاعات را میدهد.
میکروسکوپ FIB-SEM سری Crossbeam 340/550
این میکروسکوپ یکی از میکروسکوپهای رده FIB-SEM زایس است که برای نانوتوموگرافی و نانوفابریکیشن استفاده میشود. با استفاده از میکروسکوپ Crossbeam، امکان گرفتن تصویر، تجزیه و تحلیل ستون Gemini و قابلیتهای نسل جدید FIB در کنار هم فراهم شده است. در این میکروسکوپ به دلیل استفاده از جریان ۱۰۰ نانوآمپری در FIB، امکان انجام توموگرافی در کمترین زمان وجود دارد.